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J-GLOBAL ID:200903099117547088

計測システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中村 稔 (外6名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1997528524
Publication number (International publication number):1999503851
Application date: Jan. 23, 1997
Publication date: Mar. 30, 1999
Summary:
【要約】計測システム(10)は、多数の計器(20a-20k)を伴う測定レベル(12)と多数のコレクタ(22a-22c)を伴う収集レベル(14)を提供する。各々の計器(図2)は、電気消費量といったようなパラメータを定期的に測定し、測定情報を記憶する。各計器(図2)は無線信号(24)によりコレクタ(図8)に対してその記憶された測定情報を定期的に伝送する。コレクタ(22a-22c)は、1つの伝送(24)を受理した時点で、どの計器(20a-20k)が伝送(24)を行ったかを決定し、次に未処理の測定情報を抽出する。次にコレクタ(図8)は測定情報を処理して、例えば負荷プロファイル(図13)、使用時刻プロファイル(図14A及び14B)又は、需要プロファイル(図15a及び15B)を生成する。コレクタ(図8)は、紛失した伝送(24)及び電源故障を補償することができる。各計器(20a-20k)についての計測された関数は、コレクタ(22a-22c)から監視ステーション(26)まで伝送される。
Claim (excerpt):
a)i) 一連の連続的測定値を生成するべく一連の測定時刻パラメータを測定するためのセンサー、 ii) 前記一連の連続的測定値から複数の測定値を記憶するように設定された第1のメモリー、及び iii) 各々複数の異なる伝送時刻で伝送される複数の記憶された測定値を、一連の伝送時刻で収集装置に伝送するための送信機、を含む複数の遠隔測定装置;及び b)i) 前記複数の遠隔測定装置のサブセットから伝送を受理するための受信機、 ii) 前記一連の伝送からの前記一連の連続的測定値を抽出しかつ前記パラメータの計測された関数を生成するべく前記一連の連続的測定値を解析するためのプロセッサ、及び iii) 監視ステーションに前記計測された関数を伝送するための送信機を含む複数の収集装置を含んで成るデータ収集システムであって、収集装置が遠隔測定装置よりも少ないシステム。

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