超音波検査システム及び方法

Inventor： , , , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：松本研一 , 小倉博 , 黒川俊久 , 荒川聡志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006326188
Publication number (International publication number)：2007155730
Application date： Dec. 01, 2006
Publication date： Jun. 21, 2007
Summary：

【課題】対象物の微細構造診断のための超音波検査システム及び方法を提供する。【解決手段】対象物(14)の微細構造診断及び劣化診断のための方法及びシステムを提供する。本方法は、基本波周波数で対象物の少なくとも1つのサブボリュームに超音波エネルギーを音波照射する工程と、該基本波周波数及びその少なくとも1つの高調波周波数で対象物からの受信エネルギーを収集する工程と、を含む。この受信エネルギーを用いて非線形性パラメータが決定される。次いでこの非線形性パラメータを用いて、対象物のサブボリュームに関する粒子サイズ及び対象物内での粒子サイズの変動が決定される。さらにこの非線形性パラメータを用いて疲労損傷または残留応力が決定される。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

対象物(14)の微細構造診断のための方法であって、対象物の少なくとも1つのサブボリュームに超音波エネルギーを音波照射する工程と、基本波周波数及びその少なくとも1つの高調波周波数で対象物からの受信エネルギーを収集する工程と、前記受信エネルギーを用いて非線形性パラメータを決定する工程と、 (a)対象物のサブボリュームに関する粒子サイズと(b)対象物内での粒子サイズの変動のうちの少なくとも一方を決定するために前記非線形性パラメータを使用する工程と、を含む微細構造診断方法。

IPC (1)：

G01N 29/04

FI (1)：

G01N29/10

F-Term (6)：

2G047AA05 , 2G047BA03 , 2G047BC11 , 2G047BC20 , 2G047EA19 , 2G047GG06

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

米国特許出願公開第2004/0077947号

Cited by examiner (7)

初期機械的破損を判定するための検査方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2004-307782 Applicant：ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
特開昭62-180268
非線形超音波を用いた内部微視亀裂検出方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-120595 Applicant：科学技術振興事業団

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