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J-GLOBAL ID：200903099253519853

ヘテロエピタキシャル成長方法、ヘテロエピタキシャル層および半導体発光素子

Inventor：
松岡 隆志

About 松岡 隆志


Applicant, Patent owner：
日本電信電話株式会社

About 日本電信電話株式会社


Agent (1)： 谷 義一 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996285606
Publication number (International publication number)：1998135140
Application date： Oct. 28, 1996
Publication date： May. 22, 1998
Summary：
【要約】【課題】 エピタキシャル成長層や基板に歪み、クラック等を発生しないヘテロエピタキシャル成長方法およびその方法により成長したヘテロエピタキシャル層を提供することにある。【解決手段】 基板上に、基板とは異なる格子定数を有する半導体層を成長させるヘテロエピタキシャル成長方法が、基板上の所定部位に半導体層を選択成長させるための開口部を有する層を形成して開口部によって基板の所定部位を露出させる工程と、開口部によって露出された基板の表面上に半導体層を選択的にヘテロエピタキシャル成長させる工程とを備えている。
Claim (excerpt)：
基板上に、基板とは異なる格子定数を有する半導体層を成長させるヘテロエピタキシャル成長方法において、前記基板上の所定部位に前記半導体層を選択成長させるための開口部を有する層を形成して該開口部によって前記基板の前記所定部位を露出させる工程と、前記開口部によって露出された基板の表面上に前記半導体層を選択的にヘテロエピタキシャル成長させる工程とを備えたことを特徴とするヘテロエピタキシャル成長方法。
IPC (7)：
H01L 21/205 ,  C30B 19/12 ,  C30B 25/18 ,  C30B 29/38 ,  H01L 21/20 ,  H01L 21/203 ,  H01S 3/18
FI (7)：
H01L 21/205 ,  C30B 19/12 ,  C30B 25/18 ,  C30B 29/38 Z ,  H01L 21/20 ,  H01L 21/203 M ,  H01S 3/18
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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