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J-GLOBAL ID：200903099316746740
光熱変換分光分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996312189
Publication number (International publication number)：1998153561
Application date： Nov. 22, 1996
Publication date： Jun. 09, 1998
Summary：
【要約】【課題】 高感度検出が可能な光熱変換分光分析装置を提供する。【解決手段】 励起光源10から出力され輪帯光束形成部12により輪帯光束とされた励起光Aは、ダイクロイックミラー30を透過し、一方、検出光源20から出力された検出光Bは、ダイクロイックミラー30により反射され、励起光Aおよび検出光Bは、互いに光束が重なることなく同軸とされてダイクロイックミラー30から出射される。励起光Aが試料40に照射されて生じた熱レンズに検出光Bが入射すると信号光Cが発生する。この信号光Cは、ダイクロイックミラー32、集光レンズ50、ピンホール51およびフィルタ52を経て、検出器53により検出されて電流信号とされ、アンプ54により電圧信号に変換され、そして、この電圧信号は、ロックインアンプ55により、チョッパ11における励起光Aの変調周期に同期して検波される。
Claim (excerpt)：
励起光が試料に照射されて形成される熱レンズに検出光を入射させ、前記検出光が前記熱レンズにより発散または偏向されて出力された信号光に基づいて前記試料の分光分析を行う光熱変換分光分析装置であって、前記励起光を出力する励起光源と、前記検出光を出力する検出光源と、前記励起光および前記検出光のうちの何れか一方の光束を、他方の光束の外径よりも大きい内径の輪帯光束に成形して出力する輪帯光束形成手段と、前記一方の光束と前記他方の光束とを互いに重なることなく略同軸として前記試料に集光照射する照射光学系と、前記検出光の前記試料への照射に伴って発生する前記信号光を検出する検出器と、を備えることを特徴とする光熱変換分光分析装置。
IPC (4)：
G01N 25/16
, G01N 21/00
, G01N 21/41
, G01N 21/63
G01N 25/16 C
, G01N 21/00 Z
, G01N 21/41 Z
, G01N 21/63 A
