Pat

J-GLOBAL ID：200903099379087339

光分析方法及び装置

Inventor： 清水 元治 ,  大野 勉 ,  武林 敬 ,  兼子 智 ,  松井 治
Applicant, Patent owner： 株式会社松井製作所
Agent (1)： 大西 哲夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995125751
Publication number (International publication number)：1996297087
Application date： Apr. 25, 1995
Publication date： Nov. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 分層化された液状試料の深さ方向に沿って、液状試料の状態・性質を、簡単・迅速に、且つ正確に分析する。【構成】 液状試料22を透光性を有する試料容器21に入れる工程と、試料容器21内の液状試料22を深さ方向に分層化する工程と、この試料容器21と投光器3からの光Lとを高さ方向に相対移動させつつ少なくとも1回は液状試料22を透過した光Lの強さを測光器4によって測定する工程とを有する。

Claim (excerpt)：

液状試料を透光性を有する試料容器に入れる工程と、この試料容器内の液状試料を深さ方向に分層化する工程と、この試料容器と投光器からの光とを高さ方向に相対移動させつつ少なくとも1回は液状試料を透過した光の強さを測光器によって測定する工程とを有することを特徴とする光分析方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭62-255851
  
• 特開平4-001567
  
• 特開昭62-255851
  
• 特開平4-001567