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J-GLOBAL ID：200903099423092418

メトリック学習装置及びメトリック学習方法

Inventor： 金道 敏樹 ,  吉田 秀行 ,  渡辺 泰助
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 岩橋 文雄 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000341567
Publication number (International publication number)：2001175690
Application date： Aug. 30, 1996
Publication date： Jun. 29, 2001
Summary：

【要約】【課題】 提示された情報に対するユーザの応答と情報につけられたキーワードとの関係をメトリック信号に反映させることを目的とする。【解決手段】 情報データを提示する情報提示手段と、前記提示された情報データが必要か不要かを入力する入力手段と、前記情報に付けられた一つ以上のキーワード信号からなるキーワード群信号をベクトル信号に変換するベクトル変換手段と、情報データが必要か不要かという入力と前記ベクトル信号とから前記キーワードへのユーザの必要性を予測する値をメトリック信号に割り振るメトリック学習手段と、前記メトリック信号を記憶するメトリック記憶手段とを有するもので、ユーザーの必要とする情報を取り出すために有効で、提示された情報に対するユーザの応答と前記情報につけられたキーワードとの関係を反映させ、メトリック信号を得ることができる。

Claim (excerpt)：

提示された情報に対するユーザの応答と前記情報につけられたキーワードとの関係をメトリック信号に反映させるメトリック学習装置であって、前記情報は情報データと一つ以上のキーワード(文字列)を含むものであり、前記情報データを提示する情報提示手段と、前記提示された情報データが必要か不要を入力する入力手段と、前記情報に付けられた一つ以上のキーワード信号からなるキーワード群信号をベクトル信号に変換するベクトル変換手段と、情報データが必要か不要かという入力と前記ベクトル信号とから前記キーワードへのユーザの必要性を予測する値をメトリック信号に割り振るメトリック学習手段と、前記メトリック信号を記憶するメトリック記憶手段とを有することを特徴とするメトリック学習装置。

IPC (3)：

G06F 17/30 340 ,  G06F 17/30 110 ,  G06N 1/00 510

FI (3)：

G06F 17/30 340 A ,  G06F 17/30 110 F ,  G06N 1/00 510