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J-GLOBAL ID:200903099455935557
ソフトウェアテスト支援システム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
木内 光春
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994002810
Publication number (International publication number):1995210424
Application date: Jan. 14, 1994
Publication date: Aug. 11, 1995
Summary:
【要約】【目的】 効率的なソフトウェアテストを容易に行うことのできるソフトウェアテスト支援システムを提供することを目的とする。【構成】 構造化プログラミング手法を用いて作成されたソースコードは、ソースコード解析手段によって複数の単位ルーチンに分類され、さらに、各単位ルーチンの呼び出し関係の解析が行われる。テストケース作成手段では、解析された各単位ルーチンの呼び出し関係に基づいて全ての呼び出しパターンを網羅する複数のテストケースが作成される。このように、ソースコードに基づいてテストケースを自動的に作成することが可能となるため、日本語などの自然言語で記述されたソフトウェアの仕様書やソフトウェアの状態遷移仕様などをベースにテストケースを作成する従来の方式に比べて、より簡便にテストケースを作成することが可能となる。
Claim (excerpt):
構造化プログラミング手法によって作成されたソースコードを解析してソフトウェアのテストの支援を行うソフトウェアテスト支援システムにおいて、ソースコードを複数の単位ルーチンに分類し、各単位ルーチンの呼び出し関係を解析するソースコード解析手段と、前記ソースコード解析手段で解析された各単位ルーチンの呼び出し関係に基づいて、全ての呼び出しパターンを網羅する複数のテストケースを作成するテストケース作成手段とを備えることを特徴とするソフトウェアテスト支援システム。
IPC (2):
G06F 11/28 340
, G06F 9/06 540
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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特開平4-133138
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特開平3-282637
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特開平4-192043
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特開昭64-023346
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特開平4-052835
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開発管理方式
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-275044
Applicant:株式会社日立製作所, 日立コンピユータエンジニアリング株式会社
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特開平1-261737
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特開平4-104334
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特開平1-193944
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