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J-GLOBAL ID:200903099465546613

DNA脱塩基部位の検出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  桜井 周矩
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002215112
Publication number (International publication number):2004049182
Application date: Jul. 24, 2002
Publication date: Feb. 19, 2004
Summary:
【課題】本発明は、DNA上に発生した脱塩基部位を、それぞれの脱塩基部位ごとに検出することにより、DNA上のどの部分に、どの程度存在するかを検出することを課題とする。【解決手段】本発明は、(i)DNA上の脱塩基部位を標識化する工程;(ii)前記標識化DNAを基板上に線状に固定化する工程;および(iii)前記固定化された標識化DNAのそれぞれの脱塩基部位を検出する工程;を含む、DNAの脱塩基部位の可視的検出方法を提供することにより、上記課題を解決した。本発明はまた、(i)DNA上の脱塩基部位を標識化した標識化DNAサンプルを、基板上に線状に固定化する固定化手段;(ii)標識化されたそれぞれの脱塩基部位を検出する検出手段;を含む、DNAの脱塩基部位の可視的検出用装置を提供することにより、上述した課題を解決した。【選択図】 なし
Claim (excerpt):
(i)DNA上の脱塩基部位を標識化する工程;および (ii)前記標識化DNAを基板上に線状に固定化する工程;を行った後、 (iii)前記固定化された標識化DNAのそれぞれの脱塩基部位を検出する工程;を含む、DNAの脱塩基部位の可視的検出方法。
IPC (4):
C12Q1/68 ,  C12M1/00 ,  G01N33/53 ,  G01N33/58
FI (4):
C12Q1/68 Z ,  C12M1/00 A ,  G01N33/53 M ,  G01N33/58 A
F-Term (19):
2G045BB41 ,  2G045BB46 ,  2G045BB48 ,  2G045BB50 ,  2G045BB51 ,  2G045DA13 ,  2G045FB02 ,  2G045FB12 ,  2G045GC15 ,  4B029AA07 ,  4B029FA12 ,  4B063QA01 ,  4B063QA13 ,  4B063QQ42 ,  4B063QQ61 ,  4B063QR32 ,  4B063QR41 ,  4B063QR84 ,  4B063QX02
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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