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J-GLOBAL ID：200903099509220664

構造解析方法及び装置

Inventor： 米田 弘
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 大塚 康徳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993328025
Publication number (International publication number)：1995182310
Application date： Dec. 24, 1993
Publication date： Jul. 21, 1995
Summary：

【要約】【目的】解析処理の反復過程における解の収束速度を加速し、計算時間を短縮することを可能とした構造解析方法及び装置を提供することを目的とする。【構成】解析対象である領域に近似解の初期値を設定し、これを複数の部分構造に分けて外部記憶装置4に格納する(ステップS1及び2)。本例ではi番目の部分構造は2i-2、2i-1及び2iの領域を有し、各領域のデータは外部記憶装置4より読み出されて主記憶部に格納される。そして、ステップS4〜S8において第i番目の部分構造について近似解を求める。特に、ステップS6では加速係数による加速処理がなされる。そして、全部分構造についての処理が終了すると収束判定が行われ、近似解が収束するまで上記の処理を反復する。

Claim (excerpt)：

解析対象の領域について与えられた解析条件に対する近似解を発生して数値解析を行う構造解析方法であって、加速係数及び近似解の設定入力を行う入力工程と、前記解析対象の領域を複数の領域に分割して得られた部分領域の各々について、前記解析条件及び設定された近似解に基づいて独立に近似解を発生する発生工程と、前記発生工程で発生された近似解を前記入力工程で入力された加速係数に基づいて更に解の収束方向へ更新する更新工程と、前記更新工程により得られた値を新たに近似解として設定する設定工程とを備え、近似解が所定の範囲に収束するまで前記発生工程、更新工程及び設定工程を反復することを特徴とする構造解析方法。