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J-GLOBAL ID：200903099539831145

3次非線形感受率測定方法及び装置

Inventor： 木口 雅史 ,  加藤 美登里
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996269614
Publication number (International publication number)：1998115573
Application date： Oct. 11, 1996
Publication date： May. 06, 1998
Summary：

【要約】【課題】 粉末試料や膜試料の3次非線形感受率を測定する方法とその装置を提供する。【解決手段】 回転台41を回して、フォトダイオード40を邪魔にならないような位置に退避させる。続いてシャッター3を開いて、ビーム32、33を試料に照射する。ビーム33の入射角は、全反射臨界角より小さくする。回転台10を回転して62度近傍で角度を掃引して、信号強度が最も強くなる角度を探す。この時が、ビーム31と32の入射角の大きさが丁度等しくなった時なので、この時の回転台の角度を読めば、正確な入射角が分かる。これに基づいて3次非線形感受率をコンピュータ16により求める。【効果】 測定困難な粉末試料や不均質な膜試料の3次非線形感受率が測定できる。

Claim (excerpt)：

プリズムもしくは基板に被測定試料を密着させ、3つのレーザ光を用いて、被測定試料内で4光波混合を行う際に、すくなくとも1つの光をプリズムもしくは基板内で全反射せしめ、試料より発生する光の偏光、強度を測定することにより、試料の3次非線形感受率を測定する3次非線形感受率測定方法。

IPC (3)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/65

FI (3)：

G01M 11/00 T ,  G01N 21/27 C ,  G01N 21/65