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J-GLOBAL ID：200903099564097910

蛍光寿命測定装置および方法

Inventor： 大須賀 慎二
Applicant, Patent owner： 浜松ホトニクス株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001401146
Publication number (International publication number)：2003202292
Application date： Dec. 28, 2001
Publication date： Jul. 18, 2003
Summary：

【要約】【課題】 蛍光寿命を高精度かつ高効率に測定することができる蛍光寿命測定装置および方法を提供する【解決手段】 平均検出光子数推定手段としての演算部80は、メモリ70により生成された波形積分値の分布に基づいて、パルス励起光L1のパルス照射1回当たりに試料2から放出され光検出器20により検出された蛍光光子の平均検出個数を推定する。蛍光寿命推定手段としての演算部80は、メモリ70により生成されたピーク波高値の分布、および、上記の推定された蛍光光子の平均検出個数に基づいて、試料2から放出された蛍光L2の寿命を推定する。

Claim (excerpt)：

パルス励起光を試料に照射し、この試料から放出される蛍光の寿命を測定する蛍光寿命測定装置であって、前記試料に対して前記パルス励起光を照射する光源と、前記パルス励起光が照射された前記試料から放出される蛍光光子を検出して、その検出に応じた出力パルスを出力する光検出器と、前記パルス励起光の照射1回毎に前記光検出器から出力される出力パルスの波形積分値およびピーク波高値それぞれを出力する波形処理手段と、前記波形処理手段から出力される波形積分値の分布に基づいて、前記パルス励起光の照射1回当たりに前記試料から放出され前記光検出器により検出される蛍光光子の平均検出個数を推定する平均検出光子数推定手段と、前記波形処理手段から出力されるピーク波高値の分布、および、前記平均検出光子数推定手段により推定された蛍光光子の平均検出個数に基づいて、前記試料から放出される蛍光の寿命を推定する蛍光寿命推定手段と、を備えることを特徴とする蛍光寿命測定装置。

F-Term (16)：

2G043AA06 ,  2G043EA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA25 ,  2G043GB21 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA02 ,  2G043MA12 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06