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J-GLOBAL ID：200903099676633024

断面形状計測装置

Inventor： 井上 繁夫 ,  山崎 章伴 ,  長谷川 順行 ,  近藤 浩
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 岡本 重文 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994064863
Publication number (International publication number)：1995270133
Application date： Apr. 01, 1994
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 ?@新設時に鋼製構造物などに存在する微小な溶接部の変形、目違い量などの局部変形を精度良く計測でき、?A計測対象物の計測面が狭い場所にある場合にも、広範な範囲を計測でき、?B計測面が高所にある場合、安全に計測でき、?C非接触式で、計測面を傷付けない。【構成】 センサー移動装置により測距センサー1を計測面10aに沿うX軸方向に移動させて、測距センサー1に設けた移動距離計3によりX軸方向移動距離を計測する一方、測距センサー1から計測面10aへ特定波長の光Aを照射し、計測面から反射した反射光Bを測距センサー1で受光して、測距センサー1と計測面10aとの間のY軸方向距離を計測する。そしてX軸方向データDとY軸方向データCとをデータ処理装置7へ送り、ここでこれらのデータを処理して、局部変形プロファイル(断面形状)データを得る。

Claim (excerpt)：

計測面に対して特定波長光を照射し、その反射光を受光して、同計測面とのY軸方向距離を三角測量の原理により計測する測距センサーと、前記計測面に相対して設けたガイド軸に沿って同測距センサをX軸方向に移動させるセンサー移動装置と、前記測距センサーのX軸方向の移動距離を計測する移動距離計と、これらの機器よりなる計測ユニットを計測部位に着脱自在に取付ける着脱機構と、前記測距センサーにより得られたY軸方向データと前記移動距離計により得られたX軸方向データとを処理するデータ処理装置とにより構成したことを特徴とする断面形状計測装置。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  G01C 3/06 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (2)：

G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 350 M

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-302314
  
• 特開昭63-302314
  
• 特開平1-267406
  
• 特開平1-267406