Pat

J-GLOBAL ID：200903099746156016

水素分離膜の水素透過性能回復方法

Inventor： 小渕 彰 ,  吉田 卓司
Applicant, Patent owner： 三菱化工機株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998324809
Publication number (International publication number)：2000140584
Application date： Nov. 16, 1998
Publication date： May. 23, 2000
Summary：

【要約】【課題】できるだけエネルギ-ロスを少なくし、また、装置の複雑な構成をより簡略化すると共に、操作も容易な水素透過性能回復方法を提供する。【解決手段】パラジウム系水素分離膜装置の水素透過性能が低下した水素分離膜の透過性能を回復する方法において、パラジウム系水素分離膜装置への水素含有ガスの供給を停止し、パラジウム系水素分離膜装置の温度を少なくとも水素分離操作温度に保持して、非透過側に水蒸気を流通させることを特徴とする水素分離膜の水素透過性能回復方法。

Claim (excerpt)：

パラジウム系水素分離膜装置を用いて高純度水素を製造するにあたり、水素透過性能が低下したパラジウム系水素分離膜の透過性能を回復する方法において、パラジウム系水素分離膜装置への水素含有ガスの供給を停止し、パラジウム系水素分離膜装置の温度を、少なくとも水素分離操作温度に保持して、非透過側に水蒸気を流通させることを特徴とする水素分離膜の水素透過性能回復方法。

IPC (4)：

B01D 65/02 ,  B01D 53/22 ,  B01D 71/02 500 ,  C01B 3/56

FI (4)：

B01D 65/02 ,  B01D 53/22 ,  B01D 71/02 500 ,  C01B 3/56 Z

F-Term (32)：

4D006GA41 ,  4D006HA28 ,  4D006KA01 ,  4D006KB30 ,  4D006KC02 ,  4D006KC14 ,  4D006KD30 ,  4D006KE02P ,  4D006KE03P ,  4D006KE07Q ,  4D006KE13P ,  4D006KE16R ,  4D006KE22Q ,  4D006KE24Q ,  4D006KE28R ,  4D006MA02 ,  4D006MA03 ,  4D006MB15 ,  4D006MC02 ,  4D006MC02X ,  4D006MC03 ,  4D006MC04 ,  4D006NA31 ,  4D006NA50 ,  4D006PA01 ,  4D006PB18 ,  4D006PB66 ,  4D006PC01 ,  4G040FA01 ,  4G040FB05 ,  4G040FC07 ,  4G040FE01