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J-GLOBAL ID：200903099828747616

非線形光学定数評価方法

Inventor： 木口 雅史 ,  加藤 美登里 ,  奥中 正昭 ,  谷口 彬雄 ,  田中 尚樹
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991218264
Publication number (International publication number)：1993052740
Application date： Aug. 29, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は、粉末試料を用いても結果が平均粒径のコヒーレンス長に対する相対的大きさによらない簡便な評価方法を提供することにある。【構成】基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに密着させるか、あるいは微小間隙を設けて配置し、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することにより非線形光学定数を評価する。また、全反射面に金属層を設け、表面プラズモンを励起することにより、高感度化がはかれる。【効果】本発明によれば、結晶成長を行なわずに、粉末状の試料を用いて簡便に非線形感受率の評価を行なうことができ、材料の探索や選別の能率が向上する。

Claim (excerpt)：

基本波をプリズムにより全反射せしめ、試料をプリズムに密着させるか、あるいは微小間隙を設けて配置し、全反射によるエバネッセント波を用いて、高次高調波を発生せしめ、その発生効率を測定することを特徴とする非線形光学定数評価方法。