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J-GLOBAL ID：200903099901762130

ダイオキシン分析装置及びダイオキシン計測システム

Inventor： 志田 恵 ,  二見 博
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 光石 俊郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998020654
Publication number (International publication number)：1999218521
Application date： Feb. 02, 1998
Publication date： Aug. 10, 1999
Summary：

【要約】【課題】 焼却炉において生成する有害物質であるダイオキシン及びその誘導体の高感度に分析する分析装置及びダイオキシン計測システムを提供する。【解決手段】 焼却炉から発生する高温(約800°C)ガスを冷却機11で冷却した後、フィルタ12を通してダスト成分を除去してガスを直接採取する手段と、該ダイオキシン類を含む採取ガスを真空チャンバ13中にスリットノズルより矩形状の噴出流を噴出させて超音速ジェット流を形成する噴出手段14と、噴出された超音速ジェット流中にYAGレーザ15にて励起された色素レーザ光16を集光レンズ17を介して真空チャンバー13内に照射し、共鳴増感イオン化過程にて分子イオン18を形成するレーザ照射手段19と、生成した分子イオン18のダイオキシン類の分析を行う飛行時間型質量分析装置20とを備えてなり、上記スリットノズルを真空チャンバから大気側へ移動自在とすると共に、真空チャンバ内の所定位置に保持する規制手段を具備するものである。

Claim (excerpt)：

焼却炉から発生するダイオキシン及びその誘導体を含む燃焼ガスを直接採取する手段と、該ダイオキシン及びその誘導体を含む採取ガスを矩形状の超音速ジェット流を形成するスリットノズルを用いて真空チャンバ中に噴出する噴出手段と、噴出された超音速ジェット流中にレーザ光を照射し、共鳴増感イオン化過程にて分子イオンを形成するレーザ照射手段と、生成した分子イオンのダイオキシン及びその誘導体の分析を行う飛行時間型質量分析装置とを備えてなり、燃焼ガス中のダイオキシンを直接分析するダイオキシン分析装置において、上記スリットノズルを真空チャンバから大気側へ移動自在とすると共に、真空チャンバ内の所定位置に保持する規制手段を具備することを特徴とするダイオキシン分析装置。

IPC (4)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/40

FI (6)：

G01N 27/62 V ,  G01N 27/62 F ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/04 ,  H01J 49/10 ,  H01J 49/40