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J-GLOBAL ID：200903099911381119

質量分析計

Inventor： 江口 欣也 ,  山口 裕也 ,  坂本 由美
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992274031
Publication number (International publication number)：1994124684
Application date： Oct. 13, 1992
Publication date： May. 06, 1994
Summary：

【要約】【目的】レーザ質量分析計において、試料を顕微鏡で観察して測定箇所を特定し、測定箇所にレーザ光を集光しての照射を可能とし、レーザ光により脱離した物質を障害物なく質量分析部に送ることを可能とする。【構成】イオンを加速または偏向するリペラー電極とエクストラクション・グリッドの間に凹面反射鏡を設置した。

Claim (excerpt)：

リペラー(押出し電極)、エクスツルーダ(引出電極)、リフレクター及びレーザ光源からなる飛行時間形質量分析計において、試料と平行に配置したリペラーに対してレーザ光線を垂直に入射させ、試料とリペラーとの間にイオン集束用の電場、または磁場からなる対物レンズを配置した事を特徴とする質量分析計。

IPC (3)：

H01J 49/10 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/40