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J-GLOBAL ID：200909040613975798
JST material number (FULL)：N20031305P
JST material number：N20031305
ラマン散乱を用いたワイドギャップ半導体内結晶欠陥の高感度検出法の開発 平成12-13年度 No.12650017
JST material number：
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Identifier of Material (journals)
N20031305
Material type：Article, Print, zz
Publication frequency： zz
Country of issued：Japan(JPN)
Language (1)：
Japanese(JA)
Editor/ Editing house (1)：
文部科学省
Publisher：
日本学術振興会
Publication place：東京
JST library information (0)：
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