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J-GLOBAL ID:200909072253024117   JST material number (FULL):N20000824Z   JST material number:N20000824

ファインセラミックス内部微細欠陥高速検出・評価設備の開発 平成9-10年度 No.09555122

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Identifier of Material (journals)
N20000824
Material type:Article, Print, zz
Publication frequency: zz
Country of issued:Japan(JPN)
Language (1): Japanese(JA)
Publisher: 文部省
Publication place:東京
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