J-GLOBAL ID:200909079786905047   JST material number (FULL):N19852992I   JST material number:N19852992

IEC試験方法による試験技術の確立に関する試験研究成果報告書 昭和56年度 (電子部品等のバッドコネクション試験に関するガイドライン)

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Identifier of Material (journals)
Material type:Article, Print, zz
Publication frequency: zz
Country of issued:Japan(JPN)
Language (1): Japanese(JA)
Publisher: 日本電子部品信頼性センター
Publication place:東京
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