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J-GLOBAL ID：201001018241904119
Update date: Nov. 05, 2024
Ohtake Satoshi
オオタケ サトシ | Ohtake Satoshi
Affiliation and department：
Job title：
Professor
Homepage URL (1)：
https://gds.csis.oita-u.ac.jp/
Research field (2)：
Computer systems
, Electronic devices and equipment
Research keywords (5)：
VLSI Design Technology
, VLSI Test Technology
, VLSI Design Automation (CAD)
, Electronic Design Automation(EDA)
, IoT Applications
Research theme for competitive and other funds (20)：
- 2023 - 2026 Studies on instruction-level self-degradation detection mechanism and automated test program generation for processors
- 2018 - 2024 Studies on Reliability Enhancement of Reconfigurable Integrated Circuits in the IoT Era
- 2018 - 2023 Preventive safety for VLSIs Based on Adaptive Test during Field Operation
- 2016 - 2019 Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance
- 2015 - 2018 Reliability prediction using manufacturing test results of VLSIs
- 2014 - 2018 Studies on Reliability Enhancement of Circuits Programmed on FPGAs
- 2010 - 2014 Studies on Normal-Operation-Aware Accurate Delay Fault Testing for VLSIs
- 2008 - 2011 フィールド高信頼化のための回路・システム機構
- 2008 - 2010 Basic Studies on Testability and Security for Network-on-Chip
- 2007 - 2008 集積回路の歩留まり向上を指向したテスト技術
- 2006 - 2008 大規模LSIの上流からのフォールスパス判定とテスト不要化合成に関する研究
- 2006 - 2008 Software-Based Self-Test for Processors to guarantee high fault efficiency for structured faults
- 2005 - 2007 大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究
- 2003 - 2006 BASIC STUDIES ON TEST ARCHITECTURE AND DESIGN FOR TESTABILITY FOR SYSTEM-ON-CHIP
- 2003 - 2005 プロセッサの命令レベル自己テストとテスト容易化設計に関する研究
- 2002 - 2004 低消費電力性とテスト容易性をともに考慮したVLSI高位設計
- 2000 - 2002 Vコアベーステスト容易化設計技術の研究開発
- 2000 - 2001 大規模・高性能VLSIの遅延故障に対するテスト容易化設計に関する研究
- 1997 - 2000 テスト容易性を考慮した大規模・高性能 VLSI 高位合成およびテスト合成の研究
- 1998 - 1999 テスト容易性を考慮した高位合成に関する研究
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Papers (74)：
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Shunsuke Mukai, Yuto Kamei, Shigeki Matsubara, Satoshi Ohtake. Vibration Measurement and Analysis of Rails and Signal Bonds on the Kyushu Shinkansen. Proceedings of IEEE International Conference on Consumer Electronics Asia. 2024. 417-421
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Shunsuke Mukai, Satoshi Ohtake. Vibration Measurement Experiment of Rails at Shinkansen Rail Yard in Kumamoto. GCCE. 2023. 318-320
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Funakoshi Miyabi, Satoshi Ohtake. Hardware Implementation of Constant Monitoring System of Fetal Heart Sounds. ICCE-Taiwan. 2023. 663-664
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Toshiyuki Haramaki, Satoshi Ohtake. A Method of Controlling Devices Remotely in Online Embedded System Engineer Training. ICCE-Taiwan. 2023. 495-496
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Shunsuke Mukai, Satoshi Ohtake. Field Monitoring System for Frost Damage Warning and Quality Difference Analysis of Tea Leaves. ICCE-Taiwan. 2023. 139-140
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MISC (74)：
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舩越 雅, 大竹 哲史. 胎児心音常時モニタリングシステムのハードウェア実装. 火の国情報シンポジウム2023. 2023. 1-6
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諸岡, 蓮, 賀川, 経夫, 大竹, 哲史. AR技術を用いた観光者向け地域情報提示ツールの開発. 第84回全国大会講演論文集. 2022. 2022. 1. 201-202
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岩本岬汰郎, 大竹哲史. SAT-based LFSR Seed Generation for Delay Fault BIST. 電子情報通信学会技術研究報告(Web). 2022. 121. 388(DC2021 64-78)
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諸岡, 蓮, 賀川, 経夫, 大竹, 哲史. ARランドマークを用いた観光案内支援ツールの開発. 第83回全国大会講演論文集. 2021. 2021. 1. 253-254
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岡龍之介, 大竹哲史, 熊木光一. Defective Chip Prediction Modeling Using Convolutional Neural Networks. 電子情報通信学会技術研究報告. 2020. 119. 420(DC2019 86-97)(Web)
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Patents (6)：
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Circuit diagnosis test device and circuit diagnosis test method
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スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体
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Asynchronous memory element for scanning
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スキャン非同期記憶素子およびそれを備えた半導体集積回路ならびにその設計方法およびテストパターン生成方法
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集積回路及びその集積回路の回路設計方法
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Education (3)：
- 1997 - 1999 Nara Institute of Science and Technology Graduate School of Information Science Doctoral Course
- 1995 - 1997 Nara Institute of Science and Technology Graduate School of Information Science Master's Course
- 1991 - 1995 The University of Electro-Communications Faculty of Electro-Communications Department of Computer Science
Professional career (1)：
- Doctor of Engineering (Nara Institute of Science and Technology)
Work history (11)：
- 2023/10 - 現在 Oita University
- 2019/04 - 現在 Oita University Faculty of Science and Technology Professor
- 2023/04 - 2023/09 Oita University Faculty of Science and Technology
- 2022/04 - 2023/03 Oita University Faculty of Science and Technology
- 2017/04 - 2019/03 Oita University Faculty of Science and Technology Associate Professor
- 2011/08 - 2017/03 Oita University Faculty of Engneering Associate Professor
- 2007/04 - 2011/07 Nara Institute of Science and Technology
- 2007/11 - 2008/03 University of Wisconsin-Madison Department of Electrical and Computer Engineering, College of Engineering Visiting Scholar - Honorary Fellow
- 2001/04 - 2007/03 National Institute of Technology, Nara College Department of Information Engineering Adjunct Lecturer
- 1999/07 - 2007/03 Nara Institute of Science and Technology
- 1998/04 - 1999/06 Research Fellow of the Japan Society for the Promotion of Science
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Committee career (11)：
- 2024/04 - 現在 おおいたDX推進ラボ先端技術挑戦協議会委員
- 2022/04 - 現在 大分県LSIクラスター形成推進会議 イノベーション部会 委員
- 2015/04 - 現在 電子情報通信学会情報システムソサイエティ ディペンダブルシステム研究専門委員会 委員
- 2011/01 - 現在 IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steering Committee Member
- 2018/04 - 2022/03 情報処理学会 Transactions on System LSI Design Methodology 編集委員
- 2015/04 - 2022/03 大分県LSIクラスター形成推進会議 グローバルイノベーション部会 委員
- 2020/04 - 2021/11 IEEE Asian Test Symposium 2021 Organizing Committee Chair
- 2013/04 - 2017/03 情報処理学会 論文誌ジャーナル/JIP編集委員
- 2015/04 - 2016/11 IEEE Asian Test Symposium Program Committee Chair
- 2012/04 - 2016/03 情報処理学会 システムとLSIの設計技術研究会 運営委員
- 2012/09 - 2015/03 大分県LSIクラスター形成推進会議 研究開発専門部会 委員
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Awards (5)：
- 2008/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2007 Best Paper Award
- 2006/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2005 Best Paper Award
- 2006/01 - IEEE International Workshop on Electronic Design, Test & Applications (DELTA) 2006 Best Paper Award
- 2004/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2003 Best Paper Award
- 2002/09 - IEICE ISS 2001 Year Paper Award
Association Membership(s) (4)：
IEEE Senior Member
, 情報処理学会 会員
, IEEE Computer Society Member
, 電子情報通信学会 会員
