Rchr
J-GLOBAL ID：201001018241904119
Update date: Nov. 18, 2025
Ohtake Satoshi
オオタケ サトシ | Ohtake Satoshi
Affiliation and department：
Job title：
Professor
Homepage URL (1)：
https://gds.csis.oita-u.ac.jp/
Research field (2)：
Computer systems
, Electronic devices and equipment
Research keywords (5)：
VLSI Design Technology
, VLSI Test Technology
, VLSI Design Automation (CAD)
, Electronic Design Automation(EDA)
, IoT Applications
Research theme for competitive and other funds (20)：
- 2023 - 2026 Studies on instruction-level self-degradation detection mechanism and automated test program generation for processors
- 2018 - 2024 Studies on Reliability Enhancement of Reconfigurable Integrated Circuits in the IoT Era
- 2018 - 2023 Preventive safety for VLSIs Based on Adaptive Test during Field Operation
- 2016 - 2019 Built-In Self Diagnosis for Functional Safety Assurance
- 2015 - 2018 Reliability prediction using manufacturing test results of VLSIs
- 2014 - 2018 Studies on Reliability Enhancement of Circuits Programmed on FPGAs
- 2010 - 2014 Studies on Normal-Operation-Aware Accurate Delay Fault Testing for VLSIs
- 2008 - 2011 フィールド高信頼化のための回路・システム機構
- 2008 - 2010 Basic Studies on Testability and Security for Network-on-Chip
- 2007 - 2008 集積回路の歩留まり向上を指向したテスト技術
- 2006 - 2008 大規模LSIの上流からのフォールスパス判定とテスト不要化合成に関する研究
- 2006 - 2008 Software-Based Self-Test for Processors to guarantee high fault efficiency for structured faults
- 2005 - 2007 大規模・高性能VLSIのレジスタ転送レベルにおけるテスト容易化設計に関する研究
- 2003 - 2006 BASIC STUDIES ON TEST ARCHITECTURE AND DESIGN FOR TESTABILITY FOR SYSTEM-ON-CHIP
- 2003 - 2005 プロセッサの命令レベル自己テストとテスト容易化設計に関する研究
- 2002 - 2004 低消費電力性とテスト容易性をともに考慮したVLSI高位設計
- 2000 - 2002 Vコアベーステスト容易化設計技術の研究開発
- 2000 - 2001 大規模・高性能VLSIの遅延故障に対するテスト容易化設計に関する研究
- 1997 - 2000 テスト容易性を考慮した大規模・高性能 VLSI 高位合成およびテスト合成の研究
- 1998 - 1999 テスト容易性を考慮した高位合成に関する研究
Show all
Papers (79)：
MISC (85)：
-
沖本明良, 大竹哲史. プロセッサのALUに対する命令レベル遷移故障テスト. 2025年度電気・情報関係学会九州支部連合大会. 2025
-
長谷部健太, 大竹哲史. 束データ方式の非同期式プロセッサに対する可変遅延素子を用いた高信頼化. 2025年度電気・情報関係学会九州支部連合大会. 2025
-
岡留志歩, 大竹哲史. FPGAの特定用途向け構成における自己劣化検知テスト. 2025年度電気・情報関係学会九州支部連合大会. 2025
-
賀川経夫, 中上輝一, 大竹哲史. LSI不良予測におけるベイズ深層学習の適用とその検討. 火の国情報シンポジウム2025. 2025
-
野間旭媛, 大竹哲史. ハードエラー耐性を考慮した高位合成の一手法. 電子情報通信学会技術研究報告. 2025. 124. 374. 37-42
ｍore...
Patents (6)：
-
Circuit diagnosis test device and circuit diagnosis test method
-
スキャンBISTのLFSRシード生成法及びそのプログラムを記憶する記憶媒体
-
Asynchronous memory element for scanning
-
スキャン非同期記憶素子およびそれを備えた半導体集積回路ならびにその設計方法およびテストパターン生成方法
-
集積回路及びその集積回路の回路設計方法
ｍore...
Books (3)：
-
はかる✕わかる半導体 初めて学ぶ半導体の仕組み、動作原理、テスト手法
日経BPコンサルティング 2025 ISBN:9784864431484
-
VLSI design and test for systems dependability
Springer 2018 ISBN:9784431565925
-
VLSI-SoC: research trends in VLSI and systems on chip : Fourteenth International Conference on Very Large Scale Integration of System on Chip (VLSI-SoC 2006), October 16-18, 2006, Nice, France
Springer 2008 ISBN:9780387749082
Education (3)：
- 1997 - 1999 Nara Institute of Science and Technology Graduate School of Information Science Doctoral Course
- 1995 - 1997 Nara Institute of Science and Technology Graduate School of Information Science Master's Course
- 1991 - 1995 The University of Electro-Communications Faculty of Electro-Communications Department of Computer Science
Professional career (1)：
- Doctor of Engineering (Nara Institute of Science and Technology)
Work history (13)：
- 2025/04 - 現在 Oita University Center for Institutional Research Director
- 2023/10 - 現在 Oita University Executive Adovisor to the President for Research, Research IR, and Support for Research Environment for Graduates
- 2019/04 - 現在 Oita University Faculty of Science and Technology Professor
- 2023/04 - 2023/09 Oita University Faculty of Science and Technology
- 2022/04 - 2023/03 Oita University Faculty of Science and Technology
- 2017/04 - 2019/03 Oita University Faculty of Science and Technology Associate Professor
- 2011/08 - 2017/03 Oita University Faculty of Engneering Associate Professor
- 2012/04 - 2013/03 Nara Institute of Science and Technology Graduate School of Information Science Adjunct Lecturer
- 2007/04 - 2011/07 Nara Institute of Science and Technology
- 2007/11 - 2008/03 University of Wisconsin-Madison Department of Electrical and Computer Engineering, College of Engineering Visiting Scholar - Honorary Fellow
- 2001/04 - 2007/03 National Institute of Technology, Nara College Department of Information Engineering Adjunct Lecturer
- 1999/07 - 2007/03 Nara Institute of Science and Technology
- 1998/04 - 1999/06 Research Fellow of the Japan Society for the Promotion of Science
Show all
Committee career (19)：
- 2024/04 - 現在 IEEE Asian Test Symposium 2025 Organizing Committee Co-Chair
- 2024/04 - 現在 おおいたDX推進ラボ先端技術挑戦協議会 委員
- 2022/09 - 現在 大分経済同友会 産業創出委員会 運営委員
- 2022/04 - 現在 大分県LSIクラスター形成推進会議 イノベーション部会 委員
- 2015/04 - 現在 電子情報通信学会情報システムソサイエティ ディペンダブルシステム研究専門委員会 委員
- 2021/04 - 2023/03 情報処理学会九州支部 支部委員
- 2011/01 - 2022/07 IEEE Workshop on RTL and High Level Testing Steering Committee Member
- 2018/04 - 2022/03 情報処理学会 Transactions on System LSI Design Methodology 編集委員
- 2015/04 - 2022/03 大分県LSIクラスター形成推進会議 グローバルイノベーション部会 委員
- 2020/01 - 2021/12 IEEE Circuits and Systems Society Fukuoka Chapter Chair
- 2020/04 - 2021/11 IEEE Asian Test Symposium 2021 Organizing Committee Co-Chair
- 2018/01 - 2019/12 IEEE Circuits and Systems Society Fukuoka Chapter Vice Chair
- 2016/01 - 2017/12 IEEE Circuits and Systems Society Fukuoka Chapter Secretary/Treasurer
- 2015/04 - 2017/03 情報処理学会九州支部 支部委員
- 2013/04 - 2017/03 情報処理学会 論文誌ジャーナル/JIP編集委員
- 2015/04 - 2016/11 IEEE Asian Test Symposium 2016 Program Committee Chair
- 2012/04 - 2016/03 情報処理学会 システムとLSIの設計技術研究会 運営委員
- 2013/04 - 2015/03 情報処理学会九州支部 支部幹事
- 2012/09 - 2015/03 大分県LSIクラスター形成推進会議 研究開発専門部会 委員
Show all
Awards (5)：
- 2008/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2007 Best Paper Award
- 2006/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2005 Best Paper Award
- 2006/01 - IEEE International Workshop on Electronic Design, Test & Applications (DELTA) 2006 Best Paper Award
- 2004/11 - IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 2003 Best Paper Award
- 2002/09 - IEICE ISS 2001 Year Paper Award
Association Membership(s) (6)：
IEEE Consumer Technology Society Member
, IEEE Circuits and Systems Society Member
, IEEE Senior Member
, 情報処理学会 会員
, IEEE Computer Society Member
, 電子情報通信学会 会員
