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J-GLOBAL ID：201002011469277873   Reference number：78A0272636

EXAFS測定による局所構造解析

Author (3)： 細谷資明 (東大物性研) ,  川村隆明 (山梨大教育) ,  深町共栄 (埼玉工大)
Material： Oyo Butsuri  (応用物理)
Volume： 47  Issue： 8  Page： 708-722  Publication year： 1978 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X線スペクトル ,...

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Reference (73)：

• 1) L. V. Azaroff: Rev. mod. Phys. 35 (1963) 1012.
• 2) T. Shiraiwa, T. Ishimura and M. Sawada: J. Phys Soc. Japan 13 (1958) 847.
• 3) L. V. Azaroff and D. M. Pease: X-ray Spec-troscopy, ed. L. V. Azaroff (McGraw-Hill, New York, 1974) Chapter 6.
• 4) 渡辺 剛:応用物理, 44 (1975) 116.
• 5) 米沢富美子:固体物理, 12 (1977) 563.

Terms in the title (3)： EXAFS ,  局所構造 ,  解析