Art

J-GLOBAL ID：201002039200353940   Reference number：80A0196664

X-ray total-external-reflection-Bragg diffraction: A structural study of the GaAs-Al interface.

X線全外部反射-Bragg回折法 GaAs-Al界面の構造研究

Author (3)： MARRA W C (Bell Lab., New Jersey) ,  EISENBERGER P (Bell Lab., New Jersey) ,  CHO A Y (Bell Lab., New Jersey)
Material： J Appl Phys  (Journal of Applied Physics)
Volume： 50  Issue： 11 Pt 1  Page： 6927-6933  Publication year： 1979 
JST Material Number： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： X線反射 ,...

   To see more with JDream III (charged).   {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=80A0196664&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=C0266A") }}

Terms in the title (6)： X線 ,  Bragg回折 ,  GaAs ,  Al ,  界面 ,  研究