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J-GLOBAL ID：201002039688398734   Reference number：77A0327797

Some new techniques in reflection high energy electron diffraction (RHEED). Application to surface structure studies.

反射高エネルギー電子回折(RHEED)の新しい技術 表面構造研究への応用
Author (1)：
INO S

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Material：
Jpn J Appl Phys  (Japanese Journal of Applied Physics)

About Jpn J Appl Phys


Volume： 16  Issue： 6  Page： 891-908  Publication year： 1977 
JST Material Number： G0520A  CODEN： JJAPA  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： ENGLISH (EN)
Thesaurus term：
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高速電子回折

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