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J-GLOBAL ID：201002097243651006   Reference number：80A0256582

X線吸収法による物質のミクロ構造解析 EXAFSを中心に

Author (1)： 吉田郷弘 (京大工)
Material： Kagaku (Chemistry)  (化学)
Volume： 35  Issue： 7  Page： 544-552  Publication year： 1980 
JST Material Number： F0095A  ISSN： 0451-1964  CODEN： KAKYA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： X線光電子スペクトル ,...

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Terms in the title (4)： X線吸収 ,  物質 ,  構造解析 ,  EXAFS