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J-GLOBAL ID：201002206776907154   Reference number：10A0548471

An artifact-metrics which utilizes laser speckle patterns for plastic ID card surface

レーザースペックルパターンをプラスチックIDカード表面に用いた人工物メトリクス

Author (4)： YAMAKOSHI Manabu (National Printing Bureau, Kanagawa, JPN) ,  YAMAKOSHI Manabu (California Polytechnic State Univ., CA, USA) ,  RONG Xiaoying (California Polytechnic State Univ., CA, USA) ,  MATSUMOTO Tsutomu (Yokohama National Univ., Kanagawa, JPN)
Material： Proceedings of SPIE  (Proceedings. SPIE - The International Society for Optical Engineering)
Volume： 7618  Page： 76180B.1-76180B.8  Publication year： 2010 
JST Material Number： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： *speckle ,  *image recognition ,  pattern matching ,  accuracy ,  error rate ,  video camera ,  width ,  CMOS camera ,  beam width
Semi thesaurus term： *laser speckle ,  image matching ,  *image certification ,  Recognition Accuracy

JST classification (2)： Interferometry and interferometers  (BD07070G) ,  Pattern recognition  (JE07000S)

Terms in the title (5)： レーザー ,  スペックルパターン ,  プラスチック ,  IDカード ,  人工物