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J-GLOBAL ID：201002213506204689   Reference number：10A1144455

階層構造を有するナノ粒子の原子相関-その場,試料作製・蛍光EXAFS測定-

Author (4)： IKEMOTO HIROYUKI (Univ. Toyama, Toyama, JPN) ,  GOYO AKIMICHI (Univ. Toyama, Toyama, JPN) ,  MIYANAGA TAKAFUMI (Hirosaki Univ., Hirosaki, JPN) ,  NITTA KIYOFUMI (KEK-PF, Ibaraki, JPN)
Material： KEK Proceedings  (KEK Proc)
Issue： 2009-1  Page： 13-17  Publication year： May. 2009 
JST Material Number： L1349A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *nano particle ,  sample preparation ,  *EXAFS ,  hierarchical structure ,  *Tellurium ,  *internuclear distance ,  trigonal system ,  force constant ,  film thickness dependence
Semi thesaurus term： *蛍光EXAFS

JST classification (1)： Crystal structure of nonmetallic elements and its compounds  (BK07010N)

Terms in the title (7)： 階層構造 ,  ナノ粒子 ,  原子 ,  相関 ,  試料作製 ,  蛍光 ,  EXAFS