Art

J-GLOBAL ID：201002214355009516   Reference number：10A1268911

Nondestructive evaluation of thermal phase growth in solder ball micro-joints by synchrotron radiation X-ray micro-tomography

シンクロトロン放射X線マイクロ断層撮影法における熱相成長の非破壊評価

Author (8)： SAYAMA T ,  TSURITANI H ,  UESUGI K ,  TSUCHIYAMA A ,  NAKANO T ,  YASUDA H ,  TAKAYANAGI T ,  MORI T
Material： ADVANCES IN ELECTRONIC PACKAGING 2005, PTS A-C
Page： 1115-1121  Publication year： 2005 
JST Material Number： I20050200  ISBN： 0-7918-4200-2  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (4)： シンクロトロン放射X線 ,  断層撮影法 ,  成長 ,  非破壊評価