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J-GLOBAL ID：201002216904606575   Reference number：10A0164329

Dependence of dispersive and birefringence properties of silicon nanowires on waveguide dimensions

珪素ナノワイヤの分散特性と複屈折特性の導波路寸法への依存性

Author (2)： DANIEL Brian A. (Inst. of Optics, Univ. of Rochester, Rochester, New York 14627, USA) ,  AGRAWAL Govind P. (Inst. of Optics, Univ. of Rochester, Rochester, New York 14627, USA)
Material： Optics Letters  (Opt Lett)
Volume： 35  Issue： 2  Page： 190  Publication year： Jan. 15, 2010 
JST Material Number： H0690A  ISSN： 0146-9592  CODEN： OPLEDP  Document type： Article
Article type： 短報  Country of issue： United States (USA)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： nanowire ,  silicon ,  *birefringence ,  *dispersion ,  *optical waveguide ,  dependence ,  length ,  curve ,  group delay frequency characteristic ,  optical integrated circuit
Semi thesaurus term： 寸法依存性 ,  dispersion curve

JST classification (1)： Optical waveguide,optical fibers,and fiber optics  (BD06030H)

Terms in the title (4)： 珪素ナノワイヤ ,  複屈折 ,  導波路 ,  依存性