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J-GLOBAL ID：201002223864497847   Reference number：10A1567895

Evaluation of secondary ion yield enhancement from polymer material by using TOF-SIMS equipped with a gold cluster ion source

金クラスタイオン源を備えたTOF-Simsを用いた高分子物質からの二次イオン収率強化の評価

Author (6)： AIMOTO K ,  AOYAGI S ,  KATO N ,  IIDA N ,  YAMAMOTO A ,  KUDO M
Material： APPLIED SURFACE SCIENCE
Volume： 252  Issue： 19  Page： 6547-6549  Publication year： 2006 
JST Material Number： O0615A  ISSN： 0169-4332  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (7)： 金クラスタ ,  イオン源 ,  TOF-SIMS ,  高分子物質 ,  イオン収率 ,  強化 ,  評価