Art

J-GLOBAL ID：201002230504381984   Reference number：10A1472244

Scanning electron microscopy observations of fractal pattern formation in Al/Ge bilayer films

Al/Ge2層膜中のフラクタルパターン形成の走査型電子顕微鏡観察

Author (6)： MIURA Y ,  DOI M ,  MORITANI T ,  TAKAGI M ,  IMURA T ,  MASUO Y
Material： DESIGNING, PROCESSING AND PROPERTIES OF ADVANCED ENGINEERING MATERIALS, PTS 1 AND 2
Volume： 449-4  Page： 445-448  Publication year： 2004 
JST Material Number： O1797A  ISSN： 0255-5476  Document type： Article
Country of issue： Other (ZZZ)  Language： ENGLISH (EN)

Terms in the title (5)： Al ,  フラクタル ,  パターン形成 ,  走査型電子顕微鏡 ,  観察