優れた画像処理に触れる-ViEW2009より-「1クラス特徴選択」を用いた外観検査方式

FUJIMORI TOMOTAKA; MITARAI YUSUKE; TAKIMOTO MASAFUMI; MATSUGU MASAKAZU

Art

J-GLOBAL ID：201002234138315863 Reference number：10A0122309

優れた画像処理に触れる-ViEW2009より-「1クラス特徴選択」を用いた外観検査方式

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Volume： 42 Issue： 2 Page： 89-96 Publication year： Feb. 01, 2010
JST Material Number： Z0577B ISSN： 1346-1362 Document type： Article
Article type：解説 Country of issue： Japan (JPN) Language： JAPANESE (JA)

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Quality inspection , Pattern recognition , Graphic and image processing in general

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