Art

J-GLOBAL ID：201002241914309042   Reference number：10A0151295

Molecules on Si: Electronics with Chemistry

Si上の分子 化学技術によるエレクトロニクス

Author (6)： VILAN Ayelet (Weizmann Inst. Sci., Rehovot, ISR) ,  YAFFE Omer (Weizmann Inst. Sci., Rehovot, ISR) ,  BILLER Ariel (Weizmann Inst. Sci., Rehovot, ISR) ,  SALOMON Adi (Weizmann Inst. Sci., Rehovot, ISR) ,  KAHN Antoine (Princeton Univ., Princeton, USA) ,  CAHEN David (Weizmann Inst. Sci., Rehovot, ISR)
Material： Advanced Materials  (Adv Mater (Deerfield, Fla.))
Volume： 22  Issue： 2  Page： 140-159  Publication year： Jan. 12, 2010 
JST Material Number： W0001A  ISSN： 0935-9648  CODEN： ADVMEW  Document type： Article
Article type： 文献レビュー  Country of issue： Germany, Federal Republic of (DEU)  Language： ENGLISH (EN)

Thesaurus term： electronics ,  microelectronics ,  *silicon ,  monomolecular layer ,  molecule ,  *molecular device ,  *organic-inorganic hybrid ,  hybrid composite material ,  *energy level ,  surface level ,  *effect ,  bonding and joining ,  *selection ,  semiconductor ,  electrostatic interaction ,  dipole-dipole interaction ,  passivation ,  surface energy ,  potential barrier ,  activation energy ,  contact potential difference ,  parameter ,  defect ,  impurity level ,  characterization ,  chemical sensor ,  biosensor ,  area ,  joint(part) ,  current-voltage characteristic ,  carrier ,  band structure
Semi thesaurus term： FTIR spectra ,  IPES method ,  SIMS ,  ultraviolet photoelectron spectroscopy ,  XPS ,  analytical parameter ,  surface energy ,  *materials selection ,  large area ,  single molecule ,  charge transport ,  molecular electronics ,  *molecular electronic device

JST classification (3)： Inorganic compounds and elements in general  (CD01010D) ,  Metal-insulator-semiconductor structures  (BM03085X) ,  Manufacturing technology of solid-state devices  (NC03030V)

Terms in the title (4)： Si ,  分子 ,  化学技術 ,  エレクトロニクス