Art

J-GLOBAL ID：201002249508810556   Reference number：10A0364193

第3世代X線検出器『SID-A50』

Author (3)： NAKAI KEISUKE (ポニー工業) ,  KAMADA TOSHIMITSU (ポニー工業) ,  TAKADA KIYOHIRO (ポニー工業)
Material： 放射線による非破壊評価シンポジウム講演論文集  (Proceedings of the Symposium on Radiographic Testing)
Volume： 7th  Page： 65-70  Publication year： Mar. 04, 2010 
JST Material Number： L3793A  Document type： Proceedings
Article type： 短報  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *radiation detector ,  *method ,  image intensifier ,  image distortion ,  dynamic range ,  X-ray image ,  X ray diagnosis ,  *cadmium telluride ,  compound semiconductor ,  semiconductor material ,  *X-ray detector ,  flat panel detector ,  image technology
Semi thesaurus term： 間接変換方式 ,  *直接変換方式

JST classification (1)： Radiation detection and detectors  (AD08020J)

Terms in the title (2)： 世代 ,  X線検出器