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J-GLOBAL ID：201002259498209277   Reference number：10A0950049

A Proposal of a Visual Inspection Method for Detecting Low Contrast Defects of an IC Lead Frame by Using a Spline Function

スプライン関数を用いたICリードフレームの低コントラスト欠陥検査方法の提案

Author (3)： SHIGEMORI KIYOSHI (熊本県産業技術センター) ,  KIKUNO TOSHIHIRO (熊本防錆工業株式会社) ,  INOUE TAKAHIRO (熊本大学)
Material： 電気学会論文誌 C  (IEEJ Transactions on Electronics, Information and Systems)
Volume： 130  Issue： 9  Page： 1546-1553 (J-STAGE)  Publication year： 2010 
JST Material Number： S0810A  ISSN： 0385-4221  Document type： Article
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *flaw inspection ,  spline function ,  *lead frame ,  *integrated circuit ,  *contrast ,  genetic algorithm ,  image processing ,  *pattern matching
Semi thesaurus term： *image matching

JST classification (2)： Pattern recognition  (JE07000S) ,  Measurement,testing and reliability of solid-state devices  (NC03040G)

Reference (20)：

• (1) 秦 清治:「見えにくい欠陥・評価しにくい欠陥・人の感覚に依存する欠陥の外観検査」,電学産業システム情報化研資,IIS-06-23, pp. 23-26 (2006)
• (2) 中野宏毅・森 由美:「マルチウェーブレットを用いた低コントラスト欠陥の定量評価手法 液晶ディスプレイのムラの抽出・定量化手法」,View2004 ビジョン技術の実利用ワークショップ,pp. 44-47, 横浜 (2004)
• (3) 小野豊土・矢口博之・市野 学:「液晶パネルの自動検査システムの基礎的研究」,信学会情報・システムソサイエティ大会,p. 171 (1997)
• (4) 渡部典生・市野 学・矢口博之:「むら検査方法および装置」,公開番号:特開平11-066311 (1999)
• (5) (社)精密工学会画像応用技術専門委員会編:「画像処理応用システム」,東京電機大学出版局 (2000)

Terms in the title (6)： スプライン関数 ,  IC ,  リードフレーム ,  コントラスト ,  欠陥検査 ,  提案