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J-GLOBAL ID：201002288359663966   Reference number：10A0916792

陽電子寿命測定による30MeV電子線照射後セラミックスの欠陥導入状態評価

Author (7)： AKIYOSHI MASAFUMI (京大) ,  TAKAGI IKUJI (京大) ,  TSUCHIDA HIDETSUGU (京大) ,  YOSHIIE TOSHIMASA (京大) ,  XU Qiu (京大) ,  SATO KOICHI (京大) ,  MORIYAMA HIROTAKE (京大)
Material： 日本原子力学会秋の大会予稿集(CD-ROM)  (日本原子力学会秋の大会(CD-ROM))
Volume： 2010  Page： ROMBUNNO.E35  Publication year： Aug. 27, 2010 
JST Material Number： S0818B  Document type： Proceedings
Article type： 原著論文  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *ceramics ,  *neutron irradiation ,  *lifetime ,  *radiation damage ,  *positron lifetime

JST classification (1)： Fusion devices  (BJ02083Z)

Terms in the title (5)： 陽電子寿命 ,  電子線照射 ,  セラミックス ,  欠陥 ,  状態評価