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J-GLOBAL ID：201002297552561061   Reference number：10A0369991

Analysis of the industrial materials by terahertz sensing

テラヘルツ波による材料分析

Author (1)： FUKASAWA RYOICHI (スペクトルデザイン)
Material： 応用物理  (JSAP International)
Volume： 79  Issue： 4  Page： 312-316  Publication year： Apr. 10, 2010 
JST Material Number： F0252A  ISSN： 0369-8009  CODEN： OYBSA  Document type： Article
Article type： 解説  Country of issue： Japan (JPN)  Language： JAPANESE (JA)

Thesaurus term： *spectrochemical analysis ,  *nondestructive inspection ,  far infrared radiation ,  infrared spectroscopy ,  time domain spectroscopy ,  submillimeter wave ,  Diagnostic Imaging ,  laser spectroscopy ,  FTIR spectroscopy ,  *material ,  tomography ,  failure analysis ,  device structure ,  microscope ,  *Terahertz Spectroscopy
Semi thesaurus term： *Terahertz Imaging ,  terahertz time domain spectroscopy ,  *THz spectroscopy ,  laser teraheltz emission microscope

JST classification (2)： Infrared spectroscopy and spectrometers  (BD07042H) ,  Graphic and image processing in general  (JE04010I)

Reference (32)：

• 西澤潤一編著. テラヘルツ波の基礎と応用. 2005
• SAKAI, K. ed. Terahertz Optoelectronics, Topics in Applied Physics. 2005, 97
• 斗内政吉監修. テラヘルツ技術. 2006
• 日本分光学会編. 赤外・ラマン分光法. 2009
• 長谷川健. スペクトル定量分析. 2005

Terms in the title (2)： テラヘルツ波 ,  材料分析