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J-GLOBAL ID:201003000726712723

LED検査方法及びLED検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松田 聡
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009230956
Publication number (International publication number):2010266424
Application date: Oct. 02, 2009
Publication date: Nov. 25, 2010
Summary:
【課題】複数のLEDを撮像してLEDの表示色及び点灯・消滅状態の検査を行う場合の検査精度を向上させるLED検査方法及びLED検査装置を提供することができる。【解決手段】プリント基板16等に実装された複数のLED15の各点灯パターンにおける消灯状態を表わす消灯色を黒色として設定して、各点灯パターンにおける各LED15の表示色の検査のみならず、各LED15の点灯状態・消灯状態の検査も一度の撮像により行えるようにする。これにより複数のLED15の表示色及び点灯・消灯状態が適正であるか否かの検査を高精度で高速で効率的に行うことができる。【選択図】図1
Claim (excerpt):
複数のLEDの表示色及び点灯・消灯状態を検査するためのLED検査方法であって、 各点灯パターンにおける前記複数のLEDからの光を導光する導光工程と、 前記導光工程で導光した前記複数のLEDからの光を撮像する工程と、 前記撮像工程で撮像した画像信号を基に数値化した輝度成分及び色成分に係る値を、前記LEDの表示色の輝度成分及び色成分について予め定めた基準値、及び、前記LEDの消灯状態における消灯色として設定した黒色の輝度成分及び色成分について予め定めた基準値と比較することで、前記LEDの表示色及び点灯・消灯状態が適正であるか否かの検査を行う検査工程とを有することを特徴とするLED検査方法。
IPC (1):
G01M 11/00
FI (1):
G01M11/00 T
F-Term (1):
2G086EE03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
  • 画面表示故障の検知方法と検知装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2007-050102   Applicant:日本信号株式会社
  • 発光素子の検査方法及び装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2003-103007   Applicant:株式会社オプテル
  • 光ファイバ測光装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-297603   Applicant:技術研究組合医療福祉機器研究所
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