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J-GLOBAL ID：201003010313169792

電気的接続状態の検査装置および検査方法

Inventor： 服部 誠二
Applicant, Patent owner： ソニー株式会社
Agent (1)： 船橋 國則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009069365
Publication number (International publication number)：2010223647
Application date： Mar. 23, 2009
Publication date： Oct. 07, 2010
Summary：

【課題】被検体の多数の回路網の電気的接続状態を高速で検査できるようにする。【解決手段】複数の発振回路12-1〜12-nとして、回路構成が簡単で、高密度実装が可能な例えばクラップ発振回路を用いる。そして、これらクラップ発振回路12-1〜12-nを第1の基板30上に高密度に実装することにより、多数の回路網をコンタクトプローブ11-1〜11-nによる一度のコンタクトで非常に高速に検査できるようにする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被検体の複数の端子の各々に電気的に接触するための複数の接触子と、 前記複数の接触子の各々に直列に接続された複数の発振回路と、 前記複数の発振回路の各発振周波数を選択的に出力する選択スイッチと、 前記選択スイッチによって選択された発振周波数を計測する周波数計測部と、 前記周波数計測部の計測結果を基に前記被検体の電気的接続状態を判断する判断部と を備える電気的接続状態の検査装置。

IPC (2)：

G01R 31/04 ,  G01R 31/26

FI (2)：

G01R31/04 ,  G01R31/26 G

F-Term (9)：

2G003AA07 ,  2G003AB18 ,  2G003AE02 ,  2G003AF06 ,  2G003AG03 ,  2G014AA01 ,  2G014AB51 ,  2G014AB59 ,  2G014AC08