Pat
J-GLOBAL ID:201003012901062840
テンプレートパターンの設計方法、テンプレートの製造方法及び半導体装置の製造方法。
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (20):
蔵田 昌俊
, 河野 哲
, 中村 誠
, 福原 淑弘
, 峰 隆司
, 白根 俊郎
, 村松 貞男
, 野河 信久
, 幸長 保次郎
, 河野 直樹
, 砂川 克
, 風間 鉄也
, 勝村 紘
, 河井 将次
, 佐藤 立志
, 岡田 貴志
, 堀内 美保子
, 竹内 将訓
, 市原 卓三
, 山下 元
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009068961
Publication number (International publication number):2010225683
Application date: Mar. 19, 2009
Publication date: Oct. 07, 2010
Summary:
【課題】欠陥の発生を防止することが可能なテンプレートパターンの設計方法を提供する。【解決手段】インプリントリソグラフィに用いるテンプレートパターンの設計方法であって、テンプレートの第1の領域と第2の領域との間の第3の領域に形成されるダミーテンプレートパターンのデータを、テンプレートの設計パターンのデータに基づいて生成する工程S15を備え、第3の領域の面積に対する第3の領域の表面積の割合を表す第3の表面積率が、第1の領域の面積に対する第1の領域の表面積の割合を表す第1の表面積率よりも小さく、且つ第2の領域の面積に対する第2の領域の表面積の割合を表す第2の表面積率よりも大きくなるように、ダミーテンプレートパターンのデータを生成する。【選択図】図11
Claim (excerpt):
インプリントリソグラフィに用いるテンプレートパターンの設計方法であって、
テンプレートの第1の領域と第2の領域との間の第3の領域に形成されるダミーテンプレートパターンのデータを、前記テンプレートの設計パターンのデータに基づいて生成する工程を備え、
前記第3の領域の面積に対する第3の領域の表面積の割合を表す第3の表面積率が、前記第1の領域の面積に対する第1の領域の表面積の割合を表す第1の表面積率よりも小さく、且つ前記第2の領域の面積に対する第2の領域の表面積の割合を表す第2の表面積率よりも大きくなるように、前記ダミーテンプレートパターンのデータを生成する
ことを特徴とするテンプレートパターンの設計方法。
IPC (2):
FI (2):
H01L21/30 502D
, B29C59/02 B
F-Term (8):
4F209AA44
, 4F209AJ08
, 4F209AJ09
, 4F209PA02
, 4F209PB01
, 4F209PN09
, 4F209PQ11
, 5F046AA28
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