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J-GLOBAL ID：201003018844806917

非線形光学顕微鏡及びその調整方法

Inventor：
西村 久美子

About 西村 久美子


Applicant, Patent owner：
株式会社ニコン

About 株式会社ニコン


Agent (2)： 古谷 史旺 ,  森 俊秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008264946
Publication number (International publication number)：2010096813
Application date： Oct. 14, 2008
Publication date： Apr. 30, 2010
Summary：
【課題】本発明は、光の検出効率を確実に高く維持することのできる非線形光学顕微鏡及びその調整方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明を例示する非線形光学顕微鏡の一態様は、対物レンズ(17)が形成する照明光のスポットで物体上を走査する走査手段(16)と、前記照明光との強度関係が非線形な信号光を前記物体上のスポットから検出する検出手段(200)とを備え、前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で前記信号光の強度にピークを与える特定値の近傍に設定されている。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
対物レンズが形成する照明光のスポットで物体上を走査する走査手段と、 前記照明光との強度関係が非線形な信号光を前記物体上のスポットから検出する検出手段とを備え、 前記対物レンズの瞳径φoと前記対物レンズへ投光される照明光の光束径φfとの比である規格化ビーム径φ=φf/φoは、 前記対物レンズへ向かう照明光のパワーが一定という条件下で前記信号光の強度にピークを与える特定値の近傍に設定されている ことを特徴とする非線形光学顕微鏡。
IPC (3)：
G02B 21/00 ,  G02F 1/35 ,  G01N 21/64
FI (3)：
G02B21/00 ,  G02F1/35 ,  G01N21/64 F
F-Term (35)：
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA01 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043FA02 ,  2G043GA02 ,  2G043GA04 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA09 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2H052AA07 ,  2H052AA09 ,  2H052AC07 ,  2H052AC15 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD03 ,  2H052AF01 ,  2H052AF06 ,  2K002AA04 ,  2K002AB40 ,  2K002BA02 ,  2K002BA04 ,  2K002EA30 ,  2K002HA19 ,  2K002HA20 ,  2K002HA22 ,  2K002HA23
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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