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J-GLOBAL ID：201003025643083085

不具合未然防止システム

Inventor： 永松 陽明 ,  下田 篤 ,  久邇 朝宏 ,  小池 太 ,  芳賀 憲行 ,  門脇 潤 ,  谷口 芳夫
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： ポレール特許業務法人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009044226
Publication number (International publication number)：2010198463
Application date： Feb. 26, 2009
Publication date： Sep. 09, 2010
Summary：

【課題】不具合情報と製品実現プロセスとをリンクさせ,プロセス起因の不具合の発生低減を抑える仕組みを実現することを目的とする。【解決手段】標準製品実現プロセス・標準監査質問103と、当該組織プロセス情報記録部104に読み込まれた当該組織プロセスにおける留意事項とを関連付け、当該組織プロセスにおける予備監査質問を作成し、当該組織プロセス情報対応記録部105に記録する。当該組織プロセスにおける不具合情報106を、不具合情報同類語彙データベース107を用いて分類し、同類不具合情報を記録部108に記録する。計算部117において、同類不具合情報を予備監査質問に反映させて当該組織プロセスにおける監査質問を完成させる。製品開発のプロセス毎に監査質問を表示する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

製品実現プロセスを監査質問で評価することによって,製品の不具合を未然に防止する、入力手段、出力手段、記録手段、計算手段を有する不具合未然防止システムであって、 前記記録手段は、標準製品実現プロセスおよび標準監査質問と、不具合同類語彙データベースを有し、前記入力手段から入力された当該組織プロセスにおける製品開発プロセスでの留意事項と、当該組織不具合情報を記録し、 前記計算手段は、前記記録手段から供給される、前記標準製品実現プロセスおよび前記標準監査質問と、前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの前記留意事項とを対比させることによって前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの予備監査質問を作成し、 前記当該組織不具合情報を、前記不具合同類語彙データベースを用いて分類して同類不具合情報を作成し、 前記予備監査質問に前記同類不具合情報を反映することによって前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスでの監査質問を作成し 前記当該組織プロセスにおける前記製品開発プロセスと前記監査質問を前記出力装置に表示することを特徴とする不具合未然防止システム。

IPC (2)：

G05B 19/418 ,  G06Q 50/00

FI (2)：

G05B19/418 Z ,  G06F17/60 108

F-Term (4)：

3C100AA56 ,  3C100AA62 ,  3C100AA68 ,  3C100BB11