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J-GLOBAL ID：201003039639867463

欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラム

Inventor： 吉田 光志 ,  天野 敏之
Applicant, Patent owner： オムロン株式会社
Agent (7)： 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  野田 久登 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009048114
Publication number (International publication number)：2010203845
Application date： Mar. 02, 2009
Publication date： Sep. 16, 2010
Summary：

【課題】検査対象物に発生する欠陥の大きさにかかわらず欠陥の検出精度を維持可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。【解決手段】検査画像IMGから、大きさの異なる複数の部分領域BLK(1),BLK(2),・・・,BLK(m)を抽出する。抽出された部分領域BLK(1),BLK(2),・・・,BLK(m)の各々の画像情報からそれぞれの画像ベクトルを算出し、さらに各画像ベクトルと対応する固有空間との間の距離Out1,Out2,・・・,Outmを算出する。さらに、これらの距離を要素とする応答ベクトルを算出し、この応答ベクトルを特徴空間に写像する。そして、予め決定した判別関数に基づいて、この応答ベクトルが正常値であるかはずれ値であるかを判断する。【選択図】図5

Claim (excerpt)：

欠陥を含まない学習画像から取得された学習結果に基づいて検査画像における欠陥を検出する欠陥検出装置であって、 前記検査画像に設定された第1の評価領域を包含し、かつ互いに大きさの異なる複数の部分領域それぞれの画像情報を抽出する手段と、 前記検査画像から抽出される前記画像情報の各々から、前記部分領域の大きさ毎に検査画像ベクトルを生成する手段と、 前記部分領域の大きさ毎の検査画像ベクトルの各々について、対応の固有空間との間の距離を算出する手段と、 予め定められた判別関数を参照して、前記部分領域の大きさ毎の前記距離を要素とする第1の応答ベクトルに基づいて、前記第1の評価領域における欠陥の有無を判断する手段とを備える、欠陥検出装置。

IPC (1)：

G01N 21/88

FI (1)：

G01N21/88 Z

F-Term (10)：

2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EA20 ,  2G051ED01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 画像処理装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-078462   Applicant：三菱電機株式会社
• 回路部品の接続状態検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-132271   Applicant：山武ハネウエル株式会社
• 部品の接続良否検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-216745   Applicant：株式会社山武