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J-GLOBAL ID:201003039983579426

断層像撮影装置、断層像撮影方法法、プログラム、及びプログラム記憶媒体

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 内尾 裕一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2010030452
Publication number (International publication number):2010110656
Application date: Feb. 15, 2010
Publication date: May. 20, 2010
Summary:
【課題】 光干渉断層計で眼部の撮影を行う場合に、被検眼の動きや、瞬きによる、画像のずれや歪みを検出し、眼部断層像の画像の正確性を容易に判断する仕組みを提供する。【解決手段】 画像処理部252が被検眼の断層像の連続性を示す情報を取得し、 判定部253が画像処理部252で取得した情報に基づいて被検眼の撮影状態を判定する。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
被検眼の断層像の連続性を示す情報を取得する画像処理手段と、 前記画像処理手段で取得した情報に基づいて前記被検眼の撮影状態を判定する判定手段と、 再度被検眼の撮影を行うか否かの指示を取得する取得手段と、 を備えることを特徴とする断層像撮影装置。
IPC (3):
A61B 3/10 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/14
FI (3):
A61B3/10 R ,  A61B3/12 E ,  A61B3/14 M
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 眼底観察装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2006-082124   Applicant:株式会社トプコン
  • 眼球の結膜強膜撮像装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2006-289922   Applicant:国立大学法人東京工業大学
Cited by examiner (2)
  • 眼底観察装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2006-082124   Applicant:株式会社トプコン
  • 眼球の結膜強膜撮像装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2006-289922   Applicant:国立大学法人東京工業大学

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