Pat
J-GLOBAL ID：201003050154047046
OCTシステムにおける情報処理装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長尾 達也
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009114423
Publication number (International publication number)：2010259698
Application date： May. 11, 2009
Publication date： Nov. 18, 2010
Summary：
【課題】被検査物の断層情報と移動速度情報が高速で取得でき、スポット径よりも広範囲に亙る領域でこれらの情報の取得が可能となるOCTシステムにおける情報処理装置を提供する。【解決手段】被検査物の断層情報と移動速度情報とを取得するOCTシステムにおける情報処理装置であって、 前記第1及び第2のビームからなる測定光を、前記被検査物に対して走査するための走査光学系と、 前記第1及び第2のビームからなる測定光を、前記被検査物の異なるスポット位置に照射する光学系と、 前記被検査物の異なるスポット位置に照射された測定光による戻り光と、前記参照光による干渉信号を生成する干渉信号生成手段と、 前記生成された第1及び第2の干渉信号による干渉信号を用いて位相の変化量を求め、該位相の変化量を元に前記被検査物の移動速度を求める演算処理手段と、を有する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
少なくとも第1ビームと第2ビームとによる複数のビームからなる光を測定光と参照光とに分割して用い、
被検査物の断層情報と移動速度情報とを取得するOCTシステムにおける情報処理装置であって、
前記第1及び第2ビームからなる測定光を、前記被検査物に対して走査するための走査光学系と、
前記走査光学系によって走査される前記第1及び第2ビームからなる測定光を、前記被検査物の異なるスポット位置に照射する光学系と、
前記被検査物の異なるスポット位置に照射された前記第1及び第2ビームからなる測定光による戻り光と、前記参照光の光路に設けられた参照ミラーによって反射された前記第1及び第2ビームからなる参照光と、
による第1及び第2の干渉信号を生成する第1及び第2の干渉信号生成手段と、
前記生成された第1及び第2の干渉信号によるそれぞれ異なる干渉信号を用いて位相の変化量を求め、該位相の変化量を元に前記被検査物の移動速度を演算する信号処理手段と、
を有することを特徴とするOCTシステムにおける情報処理装置。
IPC (2)：
FI (2)：
A61B3/10 R
, G01N21/17 625
2G059AA03
, 2G059BB13
, 2G059EE09
, 2G059EE11
, 2G059FF01
, 2G059GG10
, 2G059HH01
, 2G059HH06
, 2G059JJ05
, 2G059JJ11
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM03
, 2G059MM10
, 2G059PP04
Cited by applicant (3)
-
特表平6-511312
-
断層撮影装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平7-059380
Applicant：株式会社生体光情報研究所
-
OCT装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-340620
Applicant：富士写真フイルム株式会社
Cited by examiner (3)
-
特表平6-511312
-
断層撮影装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平7-059380
Applicant：株式会社生体光情報研究所
-
OCT装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-340620
Applicant：富士写真フイルム株式会社
Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
Return to Previous Page
