Pat

J-GLOBAL ID：201003051737794466

機器寿命評価システムおよび機器寿命評価方法

Inventor： 久保 貴博 ,  深松 彰一 ,  伊藤 洋茂
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝 ,  東芝アイテック株式会社
Agent (4)： 波多野 久 ,  関口 俊三 ,  猿渡 章雄 ,  河村 修
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009063947
Publication number (International publication number)：2010216983
Application date： Mar. 17, 2009
Publication date： Sep. 30, 2010
Summary：

【課題】クリープ損傷および疲労損傷を一体的に取り扱うことで各損傷メカニズムの重畳効果を考慮でき、クリープ疲労損傷による機器寿命を高い精度で評価すること。【解決手段】本発明では、機器の運転に伴うクリープや疲労に基づく寿命を評価する演算部1を備えた機器寿命評価システムUにおいて、演算部1は、機器の変動負荷状態で生じる相当非弾性ひずみの増加量に基づいて相当塑性ひずみ増分(Δεp)を算出すると共に機器の定常負荷状態で生じる相当クリープひずみの増加量に基づいて相当クリープひずみ増分(Δεc)を算出する処理(ステップS106、ステップS107)と、相当塑性ひずみ増分(Δεp)を用いて疲労損傷(φp)を算出し且つ相当クリープひずみ増分(Δεc)を用いてクリープ損傷(φc)を算出して、この疲労損傷(φp)とクリープ損傷(φc)との和から機器の寿命を評価する処理(ステップS109〜ステップS104)とを実行するようにした。【選択図】 図3

Claim (excerpt)：

機器の運転に伴うクリープや疲労に基づく寿命を評価する演算部を備えた機器寿命評価システムにおいて、 前記演算部は、機器の変動負荷状態で生じる相当非弾性ひずみの増加量に基づいて相当塑性ひずみ増分を算出する処理と、 機器の定常負荷状態で生じる相当クリープひずみの増加量に基づいて相当クリープひずみ増分を算出する処理と、 前記相当塑性ひずみ増分を用いて疲労損傷を算出し且つ相当クリープひずみ増分を用いてクリープ損傷を算出し、疲労損傷とクリープ損傷との和を用いてクリープ疲労損傷に基づく機器の寿命を評価する処理と、 を実行することを特徴とする機器寿命評価システム。

IPC (1)：

G01N 17/00

FI (1)：

G01N17/00

F-Term (17)：

2G050AA01 ,  2G050BA10 ,  2G050BA12 ,  2G050DA02 ,  2G050DA03 ,  2G050EA01 ,  2G050EA04 ,  2G050EB01 ,  2G050EC01 ,  2G061AA12 ,  2G061AC03 ,  2G061AC06 ,  2G061BA15 ,  2G061CA01 ,  2G061CB13 ,  2G061DA11 ,  2G061EC02