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J-GLOBAL ID:201003052194257682

二次電池の状態推定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  堀井 豊 ,  荒川 伸夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008225085
Publication number (International publication number):2010060384
Application date: Sep. 02, 2008
Publication date: Mar. 18, 2010
Summary:
【課題】電池状態の変化に対応したパラメータ値変化の影響による推定精度の悪化を防止して、電池の経年変化に対応した電池モデルの推定精度を確保する。【解決手段】電池状態推定部110は、電池モデル式に従って演算周期ごとに二次電池の内部状態を推定し、推定結果に基づいて充電率(SOC)および電池電流を推定する。パラメータ推定部130は、センサにより測定された電池電流Ibと、電池状態推定部110により推定されたSOCおよび電池電流Iteとを取得する。パラメータ推定部130は、SOCに対する実電流の積算値と推定電流の積算値との誤差(推定誤差)の変化率が最小となるように、容量劣化パラメータを推定する。容量劣化パラメータの推定結果は、電池状態推定部110によって電池モデルに反映される。【選択図】図12
Claim (excerpt):
二次電池の電池電圧、電池電流および電池温度を検出するための検出手段と、 前記電池温度の検出値と、前記電池電圧および前記電池電流のうちの一方である第1状態量の検出値とに基づいて、電池モデル式に従って、前記二次電池の充電率と、前記二次電池の開放電圧と、前記電池電圧および前記電池電流のうちの他方である第2状態量とを逐次推定する電池状態推定手段と、 前記第2状態量の検出値および推定値に基づいて、前記第2状態量の検出値および推定値間の差異を表わす推定誤差を算出するとともに、前記充電率および前記開放電圧のいずれか一方と前記推定誤差とに基づいて、前記電池モデル式に用いられるパラメータ群のうち、前記二次電池の状態変化に応じて変化する所定のパラメータを推定するパラメータ推定手段とを備え、 前記電池状態推定手段は、前記パラメータ推定手段による前記所定パラメータの推定結果を前記電池モデル式に反映させることによって正極開放電位および負極開放電位を補正するとともに、補正された前記正極開放電位および前記負極開放電位に基づいて前記開放電圧を推定する、二次電池の状態推定装置。
IPC (5):
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H02J 7/00 ,  B60L 3/00 ,  B60L 11/18
FI (8):
G01R31/36 A ,  H01M10/48 P ,  H01M10/48 301 ,  H02J7/00 P ,  H02J7/00 Y ,  H02J7/00 X ,  B60L3/00 S ,  B60L11/18 A
F-Term (37):
2G016CA03 ,  2G016CB01 ,  2G016CB05 ,  5G503BB01 ,  5G503EA07 ,  5G503EA08 ,  5G503FA06 ,  5H030AS08 ,  5H030BB10 ,  5H030FF11 ,  5H030FF22 ,  5H030FF41 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44 ,  5H030FF51 ,  5H030FF52 ,  5H115PA14 ,  5H115PC06 ,  5H115PG04 ,  5H115PI16 ,  5H115PI29 ,  5H115PO06 ,  5H115PO07 ,  5H115PO17 ,  5H115PU01 ,  5H115PU21 ,  5H115QI04 ,  5H115QN03 ,  5H115QN28 ,  5H115SE06 ,  5H115TI02 ,  5H115TI05 ,  5H115TI06 ,  5H115TI09 ,  5H115TO05 ,  5H115TR19
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)

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