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J-GLOBAL ID：201003058764621802
部材取りシステム及び部材取りプログラム
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (2)：
小林 かおる
, 畠山 文夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2009116456
Publication number (International publication number)：2010266991
Application date： May. 13, 2009
Publication date： Nov. 25, 2010
Summary：
【目的】演算時間を短縮しながら、使用する原資材の総コスト及び/又は発生する破材長さを抑えることができる部材取りシステム及び部材取りプログラムを提供すること。【解決手段】部材取りシステム(部材取りプログラム)は、所定のクラスに属するカットパターンから余分な部材を出さないカットパターンを探索し(I101)、当該カットパターンを[当該クラス番号,カットパターン特定番号]のフィールドを備えた探索ノードによって特定するか(I102)、又は、当該カットパターン不存在を[当該クラス番号,カットパターン不存在表示]のフィールドを備えた探索ノードによって特定し(I106)、当該探索ノードを探索リストに追加して(I107)探索リストを作成する前方探索手段(前方探索手順)を備える。【選択図】図11
Claim (excerpt)：
原資材から[部材,必要本数]のフィールドを備えた部材リスト(長部材リスト、短部材リストを含む)に記憶された当該各[部材,必要本数]の部材(長部材、短部材を含む)を切り出すのに用いられるカットパターンを演算する部材取りシステムであって、
[原資材,切り方]のフィールドを備えたカットパターンからなるカットパターンリストを作成するカットパターンリスト作成手段と、
前記各カットパターンをクラスに分類するカットパターン分類手段と、
所定のクラスに属するカットパターンの中から余分な部材を出さないカットパターンを探索し、当該カットパターンを[当該クラス番号,カットパターン特定番号]のフィールドを備えた探索ノードによって特定するか、又は、当該カットパターン不存在を[当該クラス番号,カットパターン不存在表示]のフィールドを備えた探索ノードによって特定し、当該探索ノードを探索リストに追加して探索リストを作成する前方探索手段とを備えたことを特徴とする部材取りシステム。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
Cited by examiner (3)
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