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J-GLOBAL ID:201003059401373986

画像処理装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (7): 深見 久郎 ,  森田 俊雄 ,  仲村 義平 ,  堀井 豊 ,  酒井 將行 ,  荒川 伸夫 ,  佐々木 眞人
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2009232626
Publication number (International publication number):2010134915
Application date: Oct. 06, 2009
Publication date: Jun. 17, 2010
Summary:
【課題】撮像対象物が移動している場合であっても、ダイナミックレンジを拡大した合成画像を適切に生成可能な画像処理装置を提供する。【解決手段】合成画像を生成するための露光条件と同じ露光条件で、基準とすべきワーク(基準ワーク)を複数回撮像し、それぞれの撮像によって取得された複数の入力画像IMG3から、指定された領域が参照画像REFとして登録される。稼動モードでは、複数の露光条件でワーク2を複数回撮像することで複数の入力画像IMG1を取得し、それぞれの入力画像IMG1に対して参照画像REFに基づくサーチ処理が実行され。それぞれ特定された位置に基づいて、複数の入力画像IMG1から所定の大きさをもつ部分画像IMG2がそれぞれ抽出され、抽出された複数の部分画像IMG2に対して画像合成処理が実行されることで、合成画像OUTIMGが生成される。【選択図】図11
Claim (excerpt):
被測定物を撮像して画像データを生成するための撮像部に接続され、当該撮像部で撮像された画像データが入力されるカメラインターフェイス部と、 表示部に接続され、当該表示部に表示させる表示用画像データを出力する表示画面出力部と、 外部から入力を受付ける入力部と、 前記撮像部を用いて異なる露光条件で複数回撮像を行うことにより複数の画像を取得する取得手段と、 前記取得手段により得られた複数の第1画像に含まれる特定の被測定物の位置をそれぞれ特定する特定手段と、 前記複数の第1画像から前記被測定物の位置を基準として同じ大きさの第2画像をそれぞれ抽出する抽出手段と、 複数の前記第2画像を合成することでダイナミックレンジを拡大した合成画像を生成する合成手段とを備える、画像処理装置。
IPC (5):
G06T 1/00 ,  G06T 3/00 ,  G06T 5/00 ,  H04N 5/235 ,  G01N 21/88
FI (5):
G06T1/00 400C ,  G06T3/00 300 ,  G06T5/00 100 ,  H04N5/235 ,  G01N21/88 J
F-Term (59):
2G051AA07 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051DA06 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EA17 ,  2G051EA30 ,  2G051EB01 ,  2G051EC02 ,  2G051ED04 ,  2G051FA01 ,  5B047AA11 ,  5B047AB02 ,  5B047AB04 ,  5B047BA01 ,  5B047BB02 ,  5B047BC05 ,  5B047BC06 ,  5B047CA02 ,  5B047CA12 ,  5B047CA23 ,  5B047CB23 ,  5B047DC04 ,  5B047DC09 ,  5B047EA07 ,  5B057AA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE08 ,  5B057CE11 ,  5B057DA07 ,  5B057DC03 ,  5B057DC32 ,  5C122DA04 ,  5C122EA09 ,  5C122EA20 ,  5C122EA21 ,  5C122FC01 ,  5C122FC09 ,  5C122FH10 ,  5C122FH18 ,  5C122FK28 ,  5C122FK34 ,  5C122FK38 ,  5C122GA34 ,  5C122HA03 ,  5C122HB01 ,  5C122HB02 ,  5C122HB05 ,  5C122HB09
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
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Cited by examiner (8)
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