発光測定方法及び発光測定装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：原田洋平 , 森本義弘 , 笹原敏司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008241910
Publication number (International publication number)：2010071903
Application date： Sep. 22, 2008
Publication date： Apr. 02, 2010
Summary：

【課題】生体分子等の分析に用いる発光を一定の発光量で安定に得ることができる発光測定方法および装置を提供する。【解決手段】被検物質とそれに結合した発光酵素とが表面上に固定化された検査基板5に紫外線により活性化される発光基質を含んだ試薬を供給する供給工程と、前記試薬が供給された検査基板5に紫外線8を照射する照射工程と、前記紫外線により活性化された発光基質と前記被検物質とが反応して発生する発光をCCD2などで測定する測定工程とを行う。前記照射工程では、前記反応による単位時間当たりの発光が一定となるように所定の時間、紫外線8を照射する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

被検物質を分析するための発光測定方法であって、前記被検物質とこの被検物質に結合した発光酵素とが表面上に固定化された基板に、紫外線により活性化される発光基質を含んだ試薬を供給する供給工程と、前記試薬が供給された基板に紫外線を照射する照射工程と、前記紫外線により活性化された発光基質と前記発光酵素とが反応して発生する発光を測定する測定工程とを有しており、前記照射工程では、前記反応による単位時間当たりの発光が一定となる所定の時間、紫外線を照射することを特徴とする発光測定方法。

IPC (4)：

G01N 21/76 , G01N 33/543 , C12Q 1/66 , C12M 1/34

FI (4)：

G01N21/76 , G01N33/543 545S , C12Q1/66 , C12M1/34 E

F-Term (24)：

2G054AA06 , 2G054AB07 , 2G054BA03 , 2G054CA21 , 2G054CE02 , 2G054EA01 , 2G054EA02 , 2G054FA12 , 2G054FA17 , 2G054FA23 , 2G054FB07 , 2G054GA09 , 4B029AA07 , 4B029BB16 , 4B029CC03 , 4B029FA15 , 4B063QA01 , 4B063QA18 , 4B063QQ22 , 4B063QQ63 , 4B063QR02 , 4B063QR58 , 4B063QS36 , 4B063QX02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (10)

米国特許第6872828号公報
ルシフェラーゼ組成物及び方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-400335 Applicant：プロメガ・コーポレイシヨン
米国特許第7247726号公報

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