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J-GLOBAL ID:201003061143664037

インピーダンス測定方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (4): 恩田 博宣 ,  恩田 誠 ,  本田 淳 ,  池上 美穂
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2010519310
Publication number (International publication number):2010535544
Application date: Aug. 07, 2008
Publication date: Nov. 25, 2010
Summary:
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法である。本方法は、処理システムにおいて、第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定することと、第2電極構成を用いて上記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定することと、第1インピーダンス値および第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定することとを含む。
Claim (excerpt):
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法であって、 処理システムにおいて、 a)第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定するステップと、 b)第2電極構成を用いて前記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定するステップと、 c)前記第1インピーダンス値および前記第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定するステップと、 を含む方法。
IPC (3):
A61B 5/040 ,  A61B 5/049 ,  G01R 27/02
FI (2):
A61B5/04 300E ,  G01R27/02 A
F-Term (11):
2G028AA01 ,  2G028BC01 ,  2G028BC07 ,  2G028CG08 ,  2G028DH05 ,  2G028DH06 ,  2G028FK01 ,  2G028FK02 ,  2G028GL12 ,  2G028HN11 ,  2G028HN13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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