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J-GLOBAL ID:201003061143664037
インピーダンス測定方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
恩田 博宣
, 恩田 誠
, 本田 淳
, 池上 美穂
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2010519310
Publication number (International publication number):2010535544
Application date: Aug. 07, 2008
Publication date: Nov. 25, 2010
Summary:
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法である。本方法は、処理システムにおいて、第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定することと、第2電極構成を用いて上記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定することと、第1インピーダンス値および第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定することとを含む。
Claim (excerpt):
被験体に対してインピーダンス測定を行うために用いられる方法であって、
処理システムにおいて、
a)第1電極構成を用いてある部位において測定される少なくとも1つの第1インピーダンス値を確定するステップと、
b)第2電極構成を用いて前記部位において測定される少なくとも1つの第2インピーダンス値を確定するステップと、
c)前記第1インピーダンス値および前記第2インピーダンス値を用いて、異常の有無または程度を確定するステップと、
を含む方法。
IPC (3):
A61B 5/040
, A61B 5/049
, G01R 27/02
FI (2):
A61B5/04 300E
, G01R27/02 A
F-Term (11):
2G028AA01
, 2G028BC01
, 2G028BC07
, 2G028CG08
, 2G028DH05
, 2G028DH06
, 2G028FK01
, 2G028FK02
, 2G028GL12
, 2G028HN11
, 2G028HN13
Patent cited by the Patent:
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